目前LED全彩顯示屏都是工廠形勢的,造價不便宜,雖然理論壽命有10萬個小時,但實際上在運行約5000~10000小時以后就會均勻度惡化,開始變花,商業(yè)價值降低,在15000~20000小時以后,商業(yè)價值幾乎喪失殆盡,造成極大的社會資源浪費。
因此無論是在出廠前還是使用一段時間后,逐點校正技術(shù)都可以讓用戶以非常短的時間、和非常低的成本大幅提升顯示屏的均勻度,顯著改善圖像質(zhì)量。應用于出廠前,逐點校正是一種品質(zhì)提升手段,意味著競爭力的提升和利潤空間的拓展;應用于使用一段時間后,逐點校正可以延長全彩led顯示屏的顯示效果,為用戶創(chuàng)造出更多商業(yè)價值,減少資源浪費。
以下是國內(nèi)一流LED透明屏品牌 ;亮彩電子分享:
現(xiàn)在主流的逐點校正技術(shù)主要有兩種:
1.現(xiàn)場逐點校正
可大幅度提高顯示屏畫面一致性,而且是統(tǒng)一在生產(chǎn)車間校正,因此成本比較低,校正效果也比較好。
2.LED箱體逐點矯正
可大幅度提高顯示屏畫面一致性,而且是統(tǒng)一在生產(chǎn)車間校正,因此成本比較低,校正效果也比較好。
目前LED顯示屏廠家,都是采用的箱體逐點校正,是LED透明屏出廠前必須通過的一道檢測程序。威特姆箱體校正技術(shù)工藝走在行業(yè)內(nèi)前列,透明屏對各種環(huán)境適應性強。顯示效果一致性較好。
下面重點介紹箱體逐點校正:
箱體校正是安排在出廠前的最后一個環(huán)節(jié),主要用以消除箱體內(nèi)部和箱體之間的亮度和色度差異,提高拼接后LED顯示屏的均勻性。
在生產(chǎn)環(huán)節(jié)中除增加校正環(huán)節(jié),廠商一般還需要跟進屏體出廠的校正效果。常用的做法有以下三種:
一是將所有箱體拼接起來,觀察顯示效果,但拼接的工作量比較大,實現(xiàn)起來不方便;
二是隨機地抽取部分箱體進行拼接,觀察校正效果;
三是利用校正系統(tǒng)記錄的測量數(shù)據(jù)對所有箱體的校正效果進行仿真評估。增加了箱體校正和仿真評估/抽檢環(huán)節(jié)的LED生產(chǎn)流水線。
與現(xiàn)場校正類似,對于每一個箱體來說,箱體校正的過程包括數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、目標值設定、校正系數(shù)計算以及系數(shù)上傳,同時也需要控制系統(tǒng)的配合。
關(guān)鍵技術(shù)與難點:
箱體校正是提高LED透明屏圖像質(zhì)量的有效途徑,其關(guān)鍵技術(shù)方面主要體現(xiàn)在以下兩方面:
1.箱體內(nèi)部的像素間均勻性
包括亮色度均勻性校正和亮暗線修正:
亮色度均勻性校正:
通過測量設備測量LED箱體中各LED燈的亮度和色度信息,其測量方法涉及光度學、色度學以及數(shù)字圖像處理相關(guān)知識;在獲得逐點亮色度信息后再依據(jù)相應的校正標準,計算出對應的校正系數(shù)并發(fā)送給對應箱體的接收卡;箱體點亮后,顯示屏控制系統(tǒng)將按照校正系數(shù)調(diào)節(jié)LED的電流,使得箱體內(nèi)所有LED的亮度和色度達到一致。
亮暗線校正:
就是將起伏變化的LED亮度調(diào)整到一致的水平,在調(diào)節(jié)亮度過程中需要適當降低大部分LED的最大亮度值。色度校正則是根據(jù)RGB顏色匹配原理,通過改變RGB三色的色坐標來解決色度偏差的問題,為校正前后的色域?qū)Ρ葓D,大三角形為校正前顯示屏的色域,RGB三色的色坐標離散分布;小三角形為校正后的顯示屏色域,RGB三色色坐標一致性較好。
由于機械加工精度、拼裝精度等工藝原因的限制,拼接燈板的間距存在輕微的不一致現(xiàn)象,在顯示時就會出現(xiàn)亮線或者暗線。
2.箱體之間的亮色度一致性
人眼只能夠分辨LED像素間4-5%以上的亮度差異,卻能夠輕易識別出1%的箱體亮色度差異。也就是說,人眼對箱體內(nèi)部像素的一致性要求較低,而對箱體之間的一致性要求較高。因此,箱體之間的亮色度一致性是箱體校正特有的關(guān)鍵技術(shù)。
箱體之間的亮色度不一致主要體現(xiàn)在兩個方面:
(1)箱體之間的平均亮色度存在差異,當拼接箱體的時候,就會出現(xiàn)明顯的邊界線,這可以通過調(diào)整色域和設置合適的目標值來實現(xiàn);必要時,需要配備精度更高的色度計來進行輔助測量。
(2)箱體的亮色度分布呈現(xiàn)為梯度漸變分布,這是由于箱體測量數(shù)據(jù)存在梯度分布現(xiàn)象導致的。箱體拼接在一起的時候,拼接處的亮度就會發(fā)生較大的跳變,形成明顯的拼接線。這就要求校正系統(tǒng)能夠檢測并解決測量數(shù)據(jù)的梯度分布問題。
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